Accuris Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 5: Lebensdauerpruefung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2023); Deutsche ... VDE 0884-749-5

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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 5: Lebensdauerpruefung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2023); Deutsche Fassung EN IEC 60749-5:2024
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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 5: Lebensdauerpruefung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2023); Deutsche Fassung EN IEC 60749-5:2024
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Product Number VDE 0884-749-5
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