Accuris Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 21: Loetbarkeit (IEC 47/2862/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-21:2024 VDE 0884-749-21 (DRAFT)

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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 21: Loetbarkeit (IEC 47/2862/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-21:2024
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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 21: Loetbarkeit (IEC 47/2862/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-21:2024
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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 21: Loetbarkeit (IEC 47/2862/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-21:2024 - VDE 0884-749-21 (DRAFT) - Accuris
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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 21: Loetbarkeit (IEC 47/2862/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-21:2024
VDE 0884-749-21 (DRAFT)
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Product Number VDE 0884-749-21 (DRAFT)
Product Name Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 21: Loetbarkeit (IEC 47/2862/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-21:2024
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