Accuris Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2881/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-23:2024 DIN EN IEC 60749-23 (DRAFT)

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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2881/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-23:2024
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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2881/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-23:2024
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