Accuris Halbleiterbauelemente - Pruefung des zeitabhaengigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) fuer dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007 DIN EN 62374

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Halbleiterbauelement e - Pruefung des zeitabhaengigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) fuer dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007

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Product Number	DIN EN 62374
Product Name	Halbleiterbauelemente - Pruefung des zeitabhaengigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) fuer dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007