Accuris Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Pruefverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen duenner Schichten (IEC 62047-8:2011); Deutsche Fassung ... DIN EN 62047-8

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Halbleiterbauelement e - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Pruef verfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmer kmalen duenner Schichten (IEC 62047-8:2011); Deutsche Fassung EN 62047-8:2011
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Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Pruefverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen duenner Schichten (IEC 62047-8:2011); Deutsche Fassung EN 62047-8:2011

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