Accuris Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 29: Latch-up-Pruefung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011 DIN EN 60749-29

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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 29: Latch-up-Pruefung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011
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Halbleiterbauelement e - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 29: Latch-up-Pruefung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011
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