Accuris Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Dotierungsprofiles von einkristallinem Halbleitermaterial mit der Kapazitaets-Spannungs-Methode und Quecksilberkontakt DIN 50439

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Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologi e; Bestimmung des Dotierungsprofiles von einkristallinem Halbleitermaterial mit der Kapazitaets-Spannung s-Methode und Quecksilberkontakt
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Englewood, CO, United States
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Product Number DIN 50439
Product Name Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Dotierungsprofiles von einkristallinem Halbleitermaterial mit der Kapazitaets-Spannungs-Methode und Quecksilberkontakt
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